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2025-07-01News｜芯測科技榮獲「Configurable Testing and Repair System for Non-Volatile Memory」美國發明專利
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2025-06-30News｜從測試到量產：eFlash IP 在車用SoC設計中的實戰應用
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2025-06-23News｜傳統記憶體測試已不敷使用？深入解析 UDA 與 EZ-TEC 的創新應用
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2025-06-19News｜芯測科技榮獲「2025年度優秀車規芯片提供商」殊榮，彰顯在車用電子領域的卓越實力
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2025-06-17News｜AI晶片設計中的高效推手：BIST與BISR技術解析
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2025-06-02News｜「芯」疫苗問世！芯測自主研發UDA 打造SRAM全覆蓋測試方案
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2025-06-02News｜美國出手管制三大EDA供應中國，7nm以下EDA搞盜版容易嗎？
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2025-06-02News｜芯測科技進行CIM研發 瞄準量子時代的資安市場
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2025-05-22News｜芯測科技成功通過ISO/IEC 27001:2022 資訊安全管理系統認證
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2025-05-14News｜芯測科技上海子公司 上海芯復瑞成功取得ISO 9001:2015認證
活動一覽
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2025-01-17Webinar｜iSTART-TEK’s APPA
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2025-01-07Webinar｜START™ v5 Supports the BIST of CIM
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2025-01-06Webinar｜如何整合芯測科技的EDA工具與其他EDA工具完成DFT的完整流程
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2024-12-30Webinar｜如何透過SRAM測試EDA工具EZ-BIST徹底掌控DPPM