記憶體測試與修復領導廠商芯測科技（iSTART-TEK，股票代碼：6786） 今日宣布，其自主研發之「記憶體測試算法推薦系統」正式取得台灣新型專利。此系統即為芯測於2026年推出的MBIST檢測演算法推薦工具（MBIST Algorithm Recommendation Tool, MART）透過AI協作，自動化決策流程，顯著提升記憶體測試開發效率。
隨著半導體製程邁向奈米級微縮，系統單晶片（SoC）內的記憶體容量與複雜度呈幾何倍數成長，如何從成百上千種測試演算法中找出最佳解，已成為設計人員的巨大挑戰。傳統上，記憶體測試演算法的選擇極度依賴資深工程師的經驗，若選擇不當，不僅可能漏掉潛在缺陷，還會造成測試時間過長，拉高生產成本。芯測科技本次獲專利之系統，正是為了解決這項產業長期存在的低效率問題。
此系統首先透過「提問產生模組」與「介面模組」，依序產生提問資訊並接收相對應的回應，藉此精確擷取記憶體架構與應用場景的各項特徵參數；隨後，「算法推薦模組」會基於這些參數決定最適用的測試算法，並由「配置檔產生模組」自動生成對應的配置資訊。
透過這套工具，工程師能快速獲得最佳化測試算法與相關配置檔，有效縮短開發時程並提升記憶體測試的效率。
芯測科技表示，這項專利的取得，代表公司不只能提供強大的測試工具，更能快速協助客戶做出正確的測試決策。透過參數化的引導，即便是經驗尚淺的工程師，也能在極短時間內配置出專業級的記憶體測試方案。這項技術的核心價值，在於將複雜的測試經驗轉化為數位化的邏輯判斷，從源頭優化 SoC 的測試涵蓋率與生產效率。