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专利Patent
● 芯测科技成功取得「测试结果分析装置」新型专利证书
新闻News
● 芯测科技推出两款内存测试专用IP
● 让您更了解内存测试与修复的技术
● 芯测科技的EDA工具START™ v3在AI、高性能计算与车用芯片扮演关键性角色
● 芯测科技荣获DEKRA德凯ISO 26262汽车功能安全工程师认证
● 芯测科技前往华润上华2024春季技术交流会 展示内存试与修复的解决方案
芯测小学堂 iSTART Class
● 第十集: 疑难杂症芯解方
● 第十一集: iSTART Cloud
● 第十二集: 为不同Fault设计的算法介绍-上集
● 第十三集: 为不同Fault设计的算法介绍-下集
● 第十四集: EZ-Safety & EZ-TEC
● 第十五集: eFlash BIST IP
活动 Events
● Webinar 在线研讨会