EZ-NBIST 非揮發性記憶體測試電路開發環境
適用於使用NVM IP的應用，EZ-NBIST非揮發性記憶體測試電路開發環境，內建許多eFlash、OTP、MTP等IP的模塊，使用者可以透過EZ-NBIST簡單設計，快速完成eFlash、OTP、MTP等記憶體，所需要的測試與修復電路的設計。另外，針對 ReRAM新興記憶體及其特性，也提供有效的測試與修復解決方案。
產品特色
- Embedded multiple NVM IP models (OTP, MTP, eFlash, MRAM, ReRAM)
- Support advanced testing algorithms for MRAM ReRAM
- Friendly GUI interface
- Advanced testing and repairing architecture
應用
- Automotive
- Security
- White goods
- MCU
- IoT
- Smartcards
- Wearables
- Gaming
測試介面
- JTAG
- SPI