記憶體測試電路開發環境
EZ-BIST設置簡單且易於使用, 適用於MCU 晶片相關應用產品，使用者可透過EZ-BIST的各項便利設計，了解記憶體測試的原理與方法。EZ-BIST的友好界面和簡化的操作，讓使用者能夠立即構建BIST電路，有效地縮短SoC開發時間，進一步改善產品品質並降低開發成本。
產品特色
- Complete GUI interface
- Support UDM (User Defined Memory)
- Support memory grouping setting
- Support auto clock tracing
- Support clicks and drags to memory port insertion
- Support gate-cell insertion for power saving
- Smart error proofing design
- Memory BIST insertion up to 50 instances
- Multiple memory testing algorithms
- Support testing algorithms selection by application & technology node
應用
- MCU
- IoT
- Fingerprint recognition
- Wireless
測試介面
- JTAG