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START™

START™ 記憶體測試與修復電路開發環境

STARTTM (SoC’s memory Test And Repair Technology) ,是一個完整的記憶體測試和修復解決方案,STARTTM可自動在客戶的SoC設計中,完成BIST和BISR電路的設計。STARTTM 友好的界面和選單樣式的結構性配置,可幫助使用者簡單地為各種複雜SoC,完成記憶體測試和修復解決方案設計。並且適用於設計複雜的 SoC 應用,為了因應車用電子安全系統的要求,以及HPC(High Performance Computing)相關晶片的高性能需求,STARTTM許多定製化功能。STARTTM 具備 Bottom-Up、Multi-Chain、Auto-Gating clock 、POT (Power_On Testing)、DMT(Dynamic Memory Test)。其中,為了滿足HPC相關晶片的高性能要求,POT可以提供開機即進行記憶體測試與修復流程、DMT可以完成動態記憶體測試與修復的流程。POT與DMT可以提供複雜的 SoC 高性能的記憶體測試與修復電路,並且滿足複雜的 SoC 對於資料安全及正確性的需求。另外,針對 MRAM (Magneto Resistive Random Access Memory)此種新興記憶體及其特性,STARTTM  也提供客戶有效的測試與修復解決方案。

產品特色

  • Support Stand-alone repairing technical for memories without redundancy
  • Support UDM (User Defined Memory)
  • Support memory grouping setting
  • Support auto clock tracing
  • Support gate-cell insertion for power saving
  • Support POT (Power-On Testing)
  • Support DMT (Dynamic Memory Testing)
  • Support advanced testing algorithms for MRAM & ReRAM
  • Smart fool-proof design
  • No Memory instance limitation
  • GUI interface
  • Advanced repairing architecture
  • Multi-chain design
  • Bottom-up flow
  • Programmable algorithm
  • Multiple memory testing algorithms

應用

  • Automotive
  • SSD
  • Security
  • AI
  • Edge Computing
  • Network
  • High Resolution TCON
  • AIoT

測試介面

  • JTAG
  • IEEE 1149.7
  • IEEE 1687