記憶體測試與修復電路開發環境
START™ v3 (SoC’s memory Test And Repair Technology) ，是一個完整的記憶體測試和修復解決方案，START™ v3可自動在客戶的SoC設計中，完成BIST和BISR電路的設計。START™ v3友好的界面和選單樣式的結構性配置，可幫助使用者簡單地為各種複雜SoC，完成記憶體測試和修復解決方案設計。並且適用於設計複雜的 SoC 應用，為了因應車用電子安全系統的要求，以及HPC相關晶片的高性能需求，START™ v3許多定製化功能。START™ v3 具備 Bottom-Up、Multi-Chain、Auto-Gating clock 、POT (Power_On Testing)、DMT (Dynamic Memory Test)。其中，為了滿足HPC相關晶片的高性能要求，POT可以提供開機即進行記憶體測試與修復流程、DMT可以完成動態記憶體測試與修復的流程。
產品特色
- Support Stand-alone repairing technical for memories without redundancy
- Support UDM (User Defined Memory)
- Support memory grouping setting
- Support auto clock tracing
- Support gate-cell insertion for power saving
- Support POT (Power_On Test)
- Support DMT (Dynamic Memory Testing)
- Support advanced testing algorithms for MRAM & ReRAM
- Smart fool-proof design
- No Memory instance limitation
- GUI interface
- Advanced repairing architecture
- Multi-chain design
- Bottom-up flow
- Programmable algorithm
- Multiple memory testing algorithms
應用
- Automotive
- SSD
- Security
- AI
- Edge Computing
- Network
- High Resolution TCON
- AIoT
測試介面
- JTAG
- IEEE 1149.7
- IEEE 1687