芯測科技有哪些演算法可以檢測出這些Fault的位置？
芯測科技的演算法為Configurable的演算法，即可客製重疊而成的演算法，從最基本的March演算法到複雜度高的演算法我們都有提供，例如我們複雜度極高的演算法POLARIS。只要搭配我們EDA工具中的Diagnosis功能，就可以輕鬆找到這些Fault產生的位置。找到位置當然很重要，但更棒的是，從不同收Wafer的順序中，哪些地方所得到的Fault更多，可以反饋給晶圓廠，進而提升整體Wafer的良率。
Fault有哪些種類？
跟大家介紹幾種比較常見的Fault，如SAF，也就是Stuck-At-Fault。代表的是這個錯誤的Cell會一直保持0 或1而不會寫入其他值。再來是TF，它是Transition發生的Fault，代表這個Cell沒辦法做Transition；而RDF是由Read帶來的State改變；DRDF是由Read帶來的State改變，但讀出來的值仍正確；WDF是在Cell應該做Transition時卻沒有Transition；IRF是Read時State未改變，但讀出來的值卻錯誤。另外還有NPFS,也就是所謂的neighborhood pattern sensitive faults，包含ANPSF也就是他在base cell旁邊的鄰居cell做transition時更改到base cell，DRF（data retention fault,動態隨機存取記憶體故障）是由影響核心單元刷新迴路的非常高電阻斷路缺陷所產生的,同時電阻值較低可能會產生難以檢測的DRF。其他還有許多的Coupling Fault, SCFs, DCF, NPSF, SNPSF, ANPSF等，如果想要獲知更多資訊可以跟芯測科技的技術團隊接洽。
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