随着科技的演进，新开发的先进制程内存，搭配市面上常见的算法，会花费较长的测试时间，并且会有重复测试的行为。例如：使用者若同时选择March C+(14N)与 March C-(11N)的算法，测试时间需要 25N。
| March C+ |
>(wa) >(ra,wb,rb) >(rb,wa,ra) <(ra,wb,rb) <(rb,wa,ra) <(ra) |
| March C- | >(wa) >(ra,wb) >(rb,wa) >(ra) <(ra,wb) <(rb,wa) <(ra) |
此时使用这可以自行编辑一套算法，将中间重复的 element 去除如下所示：
|
>(wa) >(ra,wb,rb) >(rb,wa,ra) <(ra,wb,rb) <(rb,wa,ra) >(ra,wb) >(rb,wa) >(ra) <(ra,wb) <(rb,wa) <(ra) |
这样测试时间就可以缩短成 23N。
上述算法的 address 均是全部做测试，在此用户即可用编辑算法档案的方式，自行定义 address 的行为，如下图所示：
由上图可见，使用者选择了 UP，因此 address 是从 0 开始上数，并且定义每一个 address 是否进行 WN 行为，同时可见只有 1、3、5、7、9、11、16、18、20、22、24 和 26 的 address 进行 WN 的行为，其余的 address 均不动作，因此产生出 MASK 的电路，将不动作的行为遮蔽掉，如下图所示。
另外 Pattern 的部分，传统的算法，一次同时只能测试一个 Background Pattern，透过编辑算法档案的方式，可以一次同时测试不同的 Background Pattern，如下图所示，A 有 5 组 pattern，相对的 B、C、D 就会有 5 组，使用者可以自行定义要测试的 Pattern，每次测试仅会测试一组 Pattern。
下图为依据用户定义的算法行为，产生出的电路仿真结果，可以看到Address 只有在定义的 1、3、5、7、9、11 的 address 做 WN 的行为。
同时也提供了 GUI 模式，让用户更方便编辑档案，如下图所示，
