White Paper｜芯測科技的車用電子解決方案 (簡)

随着科技的持续发展，微处理器、内存、芯片、传感器的数量，以及配置计算机控制平台、GPS 系统、影像设备、通讯设备的比率也逐年提升，放眼现今全球汽车大厂争相投入研发的方向，目的都是如何生产更安全与更环保的高科技车辆，并提供更多舒适性及方便性。芯测科技提出车用电子的解决方案如下：
◼ EZ-BIST 为一个以 GUI（Graphical User Interface）为主的 EDA 工具，EZBIST 可以提供给 MCU（Micro Control Unit）相关芯片的客户使用，这一类别的产品含有的内存较少，但是对于良率有很高的要求，例如，胎压监控器、无线蓝芽连接等，车用电子相关芯片。所以，MCU 类相关芯片需要使用 BIST 来精准掌控芯片良率，EZ-BIST 成功扮演了良率的把关者的角色，EZ-BIST 非常容易使用，可以在数分钟之类产生 BIST 的电路，大大降低 MCU 类芯片产生BIST 电路的时间。
◼ START（SoC’s memory Test And Repair Technology），除了和EZ-BIST一样，可以提供高性能的内存测试电路外，START还可以提供内存修复技术，START有两种内存修复技术，一种是Hard-Repair，这种修复技术，可以大幅缩短内存修复的时间。Hard-Repair需要使用NVM当作记录内存缺陷信息的组件。另外一种是Soft-Repair，这种修复技术，可以不需要使用NVM当作
记录内存缺陷信息的组件，当有足够的备援内存的时候，Soft-Repair可以重复的进行内存修复工程。车用电子组件因为涉及安全的问题，一些重要的车用电子组件被要求有内存修复的电路，以确保行车安全。START提供开发车用电子芯片业者，在内存修复工程上，最佳的可靠度。因为START提供了最先进的内存修复电路，满足车用电子的实时安全性需求。
除了 EDA 工具外，芯测科技提供车用电子芯片客制化 IP 的服务，满足各类车用电子芯片的要求。
START 与 EZ-BIST 皆可以搭配微架构 IP，例如：POT（Power_On Test）、ECC（Error-Correction Code）和 DMT（Dynamic Memory Test）。POT 与 ECC 完全满足车用电子芯片对于安全性的高需求。
接下来，我们了解 ISO26262 对于车用电子的规范如下：
⚫ 芯片设计时间：需要电子组件能有低功耗、高性能的自动化测试和修复的功能。
⚫ 芯片量产阶段：需要降低DPPM和降低测试费用。
⚫ 芯片在线测试阶段：需要有开机测试、周期性测试和ECC（ErrorCorrection Codes）等功能。
另外，针对内存，IS26262 也有一些规划，节录部分规范如下：
⚫ 非挥发性内存：需要支持ECC、内存测试和修复等功能，维持非挥发性内存的正确性。
⚫ 挥发性内存：需要支持ECC、内存测试和修复等功能，维持非挥发性内存的正确性。此外，ISO26262对于挥发性内存的测试方面，还规范需要支持March测试算法。
芯测科技的的 EDA 工具与定制化 IP，针对 ISO26262 的规范，都有相对应的解决方案如下：
⚫ 芯片设计时间：START和EZ-BIST内建高性能的测试算法PLOARIS，可以协助车用电子芯片，精准的找出先进制程下的内存缺陷，并且，透过START 和EZ-BIST 产生出低功耗、面积小等电路。
⚫ 芯片量产阶段：透过START的各式修复功能，可以大幅度需要降低DPPM。
此外，透过生态系统的布局，芯测科技的快速内存诊断方案，可以大幅度降低测试费用。
⚫ 芯片在线测试阶段：START和EZ-BIST提供POT和ECC等功能，以符合在线测试的需求，使用者更可以利用客制化IP的服务，设计出符合车用电子规范的周期性测试的功能。
总之，芯测科技的 START、EZ-BIST 和定制化 IP，搭配微架构 IP，可以充分满足 ISO26262 对于车用电子组件的规范。