芯測科技的使用者自定義演算法開發平台 UDA（ User-Defined Algorithm） 採用此專利的架構。目前市面上常見的記憶體測試演算法，會有重複測試的行為，而需要花費更多測試時間與成本。同時隨著科技演進，先進製程不斷誕生，現有演算法也可能無法偵測到先進製程的記憶體缺陷，無法滿足與時俱進的需求。
芯測科技的專利「用於產生記憶體自我測試演算法電路之方法（ METHOD FOR GENERATING AN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT）」即是可有效改良此現況的先進技術。透過使用者自定義演算法（ User-Defined Algorithm, UDA），可去除重複的 elements，並自行編輯演算法檔案、 自行定義記憶體位置，大幅縮短記憶體測試時間。此外， UDA 還能設計出複雜度較高且電路面積精簡的記憶體測試演算法，更具彈性及多元化。
此技術繼 2022 年取得台灣專利後，更在 2023 年 10 月成功取得美國專利，不僅是對芯測研發能量的肯定，也讓芯測更有信心幫助客戶解決記憶體測試的疑難雜症、提高設計和生產效率。
