最具性价比的內存调适环境：EZ-Debug
在日益蓬勃发展的集成电路产业中，确保集成电路是否符合设计规格和功能已是开发与制造过程中不可或缺的重要环节。在这关键的任务下，IC产业广泛运用自动测试装置（Automatic Test Equipment, ATE）来执行测试工作。然而，过去，在处理小批量或是非量产的芯片测试时，常常仅能藉由使用ATE机台进行，但这却往往伴随需要额外的成本投入以及漫长的测试时间。
而芯测科技(上海芯复瑞)近期研发一款基于计算机平台的JTAG转USB的调适环境: EZ-Debug，可以针对非量产芯片以及开发中的芯片进行快速且高效率的进行测试，不仅可以省下ATE测试的成本，同时还可以及时的知晓结果。