在日益蓬勃發展的IC產業中，確保IC是否符合設計規格和功能已是開發與製造過程中不可或缺的重要環節。在這關鍵的任務下，IC產業廣泛運用自動測試裝置（Automatic Test Equipment, ATE）來執行測試工作。然而，過去，在處理小批量或是非量產的晶片測試時，常常僅能藉由使用ATE機台進行，但這卻往往伴隨需要額外的成本投入以及漫長的測試時間。
而芯測科技近期研發一款基於PC平台的JTAG轉USB的診斷工具 – EZ-Debug，可以針對非量產晶片以及開發中的晶片進行快速且高效率的進行測試，不僅可以省下ATE測試的成本，同時還可以即時的知曉診斷結果。