芯測科技所開發的EZ-NBIST，即是用於生成eFlash IP的BIST和BISR的專屬EDA工具。 芯測科技的BIST實現了所有eFlash的測試項目，涵蓋晶圓軟體測試和最終測試。BIST擁有靈活的串列式介面，可減少IC測試接腳的使用，增加了BIST測試的彈性。所有測試項目可以個別啟用和停用；此工具並提供診斷模式以測試缺陷位址。 芯測科技的BISR記錄了eFlash故障的記憶體位址，並使用備援區域來提高eFlash IC的產品良率，同時提供自動修復功能。
