隨著先進製程的應用越來越廣泛，物聯網(IoT, Internet of Things)晶片、高效能運算(HPC, High Performance Computing)晶片、人工智慧(AI, Artificial Intelligence)晶片、邊緣運算(Edge computing)晶片與影像處理(ISP, Image Signal Processing)晶片等，都需要使用更先進製程。在先進製程與上述各類應用需求的提升下，使用SRAM（SRAM, Static Random Access Memory）來儲存複雜的程式的情況越來越多。如何精準找出記憶體缺陷，降低DPPM(DPPM, Defect Parts Per Million)相當重要。