隨著先進製程應用廣泛，不論是高效能運算晶片、人工智慧晶片、邊緣運算晶片與影像處理晶片，都需使用先進製程。
其中，芯測科技點出，記憶體的使用在先進製程下，因為中央處理器（CPU, Central Processing Unit）執行連續讀寫的操作或是連續讀寫後加上一個常數值的操作行為，而產生動態失效（Dynamic fault），必須採用複雜度更高的記憶體測試演算法，例如March MD2，才能檢測出動態失效的情況。
芯測科技表示，為了檢測出先進製程下記憶體的動態失效，程式設計者需要花更多的時間去設計複雜度更高的記憶體測試演算法，例如March MD2。
針對這一點，芯測科技推出完全以圖形介面為主（GUI-Based）的使用者自定義演算法（UDA, User Defined Algorithm）微架構，如下圖。
芯測科技將記憶體測試演算法，以元件（Component）的形式表達，然後利用元件間的『重新排列組合』，形成新的記憶體測試演算法。如此一來，任何記憶體測試演算法都可以利用UDA在幾分鐘內產生，大幅縮短程式設計者開發記憶體測試演算法的時間，也可以讓程式設計者根據記憶體缺陷的資訊，快速的產生『專用的』記憶體測試演算法。此外，透夠元件化的架構，UDA產生的記憶體測試演算法的電路面積也相當精簡。
芯測科技表示，UDA微架構可以搭配芯測科技的EDA工具START™ v3和EZ-BIST內建的記憶體測試演算法一起使用，讓記憶體測試演算法的設計更具彈性化也更多元。
芯測科技此次推出的的UDA微架構，可望為晶片開發商帶來快速、省成本且高效能的服務，不論對於晶片的應用或是廠商的開發時程，都將扮演相當關鍵的角色。
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