深耕於開發內存測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱 iSTART)，宣布武漢飛思靈微電子採用芯測科技 START™內存測試與修復整合性電路開發環境於芯片設計中。透過 START™內建完整的測試算法選項與友善的圖形用戶界面（GUI），能大幅縮減內存測試電路開發時間、加速產品上市的時間，充分符合客戶在成本和產品可靠性的需求。
芯測科技客戶銷售部協理李玉如表示「隨著5G 相關芯片的開發，這類應用的芯片更需要廣泛使用到內存，因此內存測試與修復的工程顯得格外重要，而芯測科技透過客制化與實時的服務，贏得客戶的青睞。」
武漢飛思靈微電子技術有限公司隸屬於烽火通信科技股份有限公司，專注於光通信系統設備及光模塊器件的各類核心芯片研發與設計，是一家集成電路設計服務提供商，主要從事OTN、 PTN、PON 和光模塊芯片的開發和研究，提供PDH、SDH、MSTP、PTN 等芯片解決方案。
芯測科技是目前提供可測試性設計解決方案的領導廠商，『START™內存測試與修復整合性電路開發環境』是秉持著幫助開發者以更自動化、更快速的途徑實現多功能的內存測試與修復電路的EDA 工具。憑藉高效能、低功耗與可程序化暨管線式架構內存測試技術，從整體的芯片設計切入，並且具有完善測試算法、硬件架構共享、診斷信息紀錄、POT/DMT、與設計電路自動整合等完整功能，可配合Bottom-up、低功耗等設計流程。讓用戶能輕易產生優化的內存測試與修復電路，大幅降低設計與測試成本並提升芯片良率，提高產業競爭力。