深耕開發記憶體測試與修復技術的芯測科技(簡稱：iSTART)，宣佈君曜科技採用芯測科技便捷版記憶體測試開發平台EZ-BIST於IC晶片設計中，幫助客戶降低成本且高效率的記憶體測試開發工具，可協助客戶快速的開發產品，避免忽略記憶體測試的細節而導致產品良率下降。
「芯測秉持著幫助開發者以更簡單、更快速、更低成本的途徑實現SOC設計的初衷，提供最佳化的記憶體測試電路。」芯測科技客戶銷售部協理李玉如表示，「芯測科技憑藉其高效能、低功耗可程式化暨管線式架構記憶體測試技術，能夠協助客戶有效的控制產品成本，滿足客戶的成本和產品可靠性的需求。而芯測與君曜再次合作就是最佳範例的展現。」
現今各種電子產品功能日趨複雜，系統晶片設計需要更多的記憶體，而系統晶片設計廠商也正面臨著產品對成本與節能等各方面的需求。芯測科技的核心技術在於特有的可程式化暨管線式架構記憶體測試技術與特有架構的記憶體修復技術，並且透過各項專利加以保護，能夠和客戶緊密合作與提供技術支援，以便協助客戶完成高品質設計，增加產品競爭力。
此外，展望競爭激烈的電子系統產品市場，當需要計畫架構新的系統晶片應用產品時，芯測科技憑藉其高效能、低功耗可程式化暨管線式架構記憶體測試技術，能夠協助團隊有效的控制產品成本，打敗競爭對手。
新聞來源:https://ctee.com.tw/industrynews/technology/226210.html