内存测试与修复领导厂商芯测科技（iSTART-TEK，股票代码：6786） 今日宣布，其自主研发之「内存测试算法推荐系统」正式取得台湾新型专利。此系统即为芯测于2026年推出的MBIST检测算法推荐工具（MBIST Algorithm Recommendation Tool, MART）透过AI协作，自动化决策流程，显著提升内存测试开发效率。
随着半导体制程迈向奈米级微缩，系统单芯片（SoC）内的内存容量与复杂度呈几何倍数成长，如何从成百上千种测试算法中找出最佳解，已成为设计人员的巨大挑战。传统上，内存测试算法的选择极度依赖资深工程师的经验，若选择不当，不仅可能漏掉潜在缺陷，还会造成测试时间过长，拉高生产成本。芯测科技本次获专利之系统，正是为了解决这项产业长期存在的低效率问题。
此系统首先透过「提问产生模块」与「接口模块」，依序产生提问信息并接收相对应的响应，藉此精确撷取内存架构与应用场景的各项特征参数；随后，「算法推荐模块」会基于这些参数决定最适用的测试算法，并由「配置文件产生模块」自动生成对应的配置信息。
透过这套工具，工程师能快速获得优化测试算法与相关配置文件，有效缩短开发时程并提升内存测试的效率。
芯测科技表示，这项专利的取得，代表公司不只能提供强大的测试工具，更能快速协助客户做出正确的测试决策。透过参数化的引导，即便是经验尚浅的工程师，也能在极短时间内配置出专业级的内存测试方案。这项技术的核心价值，在于将复杂的测试经验转化为数字化的逻辑判断，从源头优化 SoC 的测试涵盖率与生产效率。