一、 POT 2.0 (Power_On Test)
1.功能介紹：POT 2.0 (Power_On Test)在電子產品裡是非常重要的功能，尤其在車用與安全性相關的電子產品。能確保硬體電路在上電後進行記憶體檢測，並驗證行為正確性。芯測科技開發了具有記憶體測試與修復功能的POT 2.0，加入START™︎ v3工具中，可以讓使用者方便在設計裡加入記憶體POT功能的電路，並提供下列幾種啟動方式：
- ROM：將測試命令(Command)存入 ROM。
- RTL：將測試命令存入由 RTL 描述的 ROM。
- Basic：提供 host_MEN 信號，進行記憶體測試。
- CPU：可以透過 CPU 下達測試指令來控制 BIST 電路。
在應用上也能加入 LATCH_GO 診斷功能，以一顆記憶體對應一位元的形式進行記憶體錯誤編號標記，讓使用者快速了解記憶體發生錯誤的位置。而 Error Injection 的功能，能在電路 Test Pattern Generator 中植入用於驗證 BIST 電路正確性的錯誤資訊，能大幅增加 BIST 電路可靠度。此外，使用 POT 2.0 時，如檢測出新的記憶體錯誤，皆能對錯誤點進行記憶體修復。
二、 ECC (Error-Correcting-Code)
1.功能介紹：ECC (Error-Correcting-Code)是指在傳輸時間允許偵測並校正錯誤的一種編碼方法，在接收端藉由已編碼資料偵測並校正傳輸錯誤，可應用於許多資料傳遞與資料保存的操作。在記憶體方面，ECC 能使用電路方法檢查儲存在記憶體中的資料是否正確。
不論是應用在汽車、工業、醫療及通訊等領域，都可能因記憶體失效，導致嚴重後果，而 ECC 的功能，能提高晶片運行時的穩定性和可靠性。
芯測科技提供 ECC 的功能，讓使用者在記憶體增加 ECC 功能，使用上可幫助使用者做到 2bits 的偵測， 及 1bit 的修正，而使用時須由記憶體提供 ECC 使用奇偶校驗(Parity Check)的空間，來重建校正的數據，須提供的空間為 2Parity-1> Parity + Data bit，例如記憶體資料長度為 22bits 時，使用 6bits 的 ECC 空間來檢測 16bit 的數據。