如何檢測出Fault
芯測科技提供各種記憶體測試演算法，包含從最基本的March演算法到複雜度極高的POLARIS演算法。還可以搭配芯測科技EDA工具中的Diagnosis功能，就可以輕鬆找出Fault的位置，即時反饋給晶圓廠，從而提升整體Wafer的良率。
Fault種類
- Stuck-At Fault (SAF)
- Transition Fault (TF)
- Read Disturb Fault (RDF)
- Deceptive Read Disturb Fault (DRDF)
- Write Disturb Fault (WDF)
- Incorrect Read Fault (IRF)
- Neighborhood Pattern Sensitive Fault (NPSF)
- Data Retention Fault (DRF)
- Coupling Fault (CF)
- State Coupling Faults (SCFs)
- Dynamic Coupling Fault (DCF)
- DCF, NPSF, SNPSF, ANPSF……
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