活動日期: 2026-08-20活動時間: 14:00~14:30活動地點: Live Webinar先進製程持續演進，SRAM 測試演算法的開發難度與驗證成本不斷攀升。如何快速找到兼顧高覆蓋率與節省測試時間的最佳演算法，已成為提升開發效率的重要關鍵。本場Webinar將介紹MART (MBIST Algorithm Recommendation Tool)如何透過AI推薦最佳化的演算法組合，提為晶片設計團隊供更高效率與更高品質的決策工具。 立即報名
