Webinar｜智能算法推荐 加速 SRAM 测试开发

先进制程持续演进，SRAM 测试算法的开发难度与验证成本不断攀升。如何快速找到兼顾高覆盖率与节省测试时间的最佳算法，已成为提升开发效率的重要关键。本场Webinar将介绍MART (MBIST Algorithm Recommendation Tool)如何透过AI推荐优化的算法组合，提为芯片设计团队供更高效率与更高质量的决策工具。

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