全球汽車朝向電動化與智慧化發展。隨著車用電子技術不斷提升，車用電子晶片的需求大幅增加。其中主要成長動能來自於電源管理IC、感測器、類比IC等不同IC的規格提升，同時電動車及能源車也持續提升車用IC的成長動能。
為確保車用電子晶片能在各種複雜的情況下運作，同時保障駕駛與乘客的行車安全，芯測科技所開發的eFlash測試與修復IP，能縮短eFlash測試時間，充分實現eFlash IP所需要的測試項目，同時降低晶片測試成本。
芯測科技的eFlash測試與修復IP，已經可以針對許多知名的半導體廠商，提供客製化eFlash測試與修復IP，並將客製化eFlash測試與修復IP使用於SoC中。此外，芯測科技的eFlash測試與修復IP已獲得中國新能源車廠的晶片供應商採用。
使用客製化eFlash測試與修復IP的好處在於：
1. 協助客戶縮短實現eFlash測試與修復電路的開發時間。
2. 充分實現eFlash所需要的完整測試項目。
3. 縮短eFlash測試時間。
車用電子晶片供應商透過芯測科技所提供的解決方案，協助車用電子晶片開發商完成eFlash的測試與修復項目。縮短車用電子晶片開發的時間，提高行車安全性，並降低晶片測試成本。使用IP儼然成為系統晶片設計上不可或缺的一環。採用芯測科技的客製化eFlash測試與修復IP，能夠充分滿足客戶提高晶片質量與降低晶片測試成本的需求。
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