專注於記憶體測試與修復解決方案的芯測科技，成功取得「測試結果分析裝置」台灣新型專利證書。
「測試結果分析裝置」是一款專為節省記憶體測試檔案轉換時間和分析記憶體測試結果的專利，可分析SoC（系統晶片）內所有記憶體測試後所產生的測試結果。搭配芯測科技的EDA工具使用，包括STIL pattern、記錄記憶體測試資訊與演算法的meminfo、提供電路模擬環境和測試輸出資訊的testbench，以及ATE機台產生的測試結果。具備上述資訊後，「測試結果分析裝置」能夠精準地測試SoC內的所有記憶體並且分析記憶體出現錯誤的資訊，為客戶提供更方便的記憶體測試服務。