自定義測試演算法
芯測科技成功取得「 METHOD FOR GENERATINGAN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT」美國專利證書，而UDA使用者自定義演算法開發平台則是採用此專利的架構。可去除重複的 Elements，並自行編輯演算法檔案、 自行定義記憶體位置，縮短記憶體測試時間，使用起來非常直觀，不管是Read、Write只要直接寫上去並開啟相應的工具開關就可以了，就算你想要一個68N複雜度的演算法，甚至是到更高的複雜度，都可以很容易地製作出來。
Fault介紹
在Memroy的電路中，由於製程的關係，可能會產生一些電路的necking或是bridging，也就是斷頭或是相近電路連在一起，又或是隨著時間過去，也有可能產生IR-drop，造成斷路，這些都統稱為Fault。