亞洲唯一專注於記憶體測試與修復解決方案芯測科技（iSTART-TEK，股票代號6786），獨家供應記憶體測試與修復解決方案並提供客製化設計的服務，主要產品包括EDA工具與IP（Intellectual Property）。隨著半導體景氣慢慢復甦，晶片設計公司開始朝著開發多樣化晶片的商務模式，著眼於車用電子晶片、人工智慧晶片、ChatGPT相關晶片、物聯網晶片與消費類產品晶片都是晶片設計公司的兵家必爭之地。因此，如何在眾多晶片設計公司中脫穎而出，以及晶片的設計品質與價格成為主要的關鍵。
芯測科技在2024年第一季推出兩款專注於晶片內記憶體測試的IP，分別為EZ-Safety與EZ-TEC。
EZ-Safety是一款專用於車用電子晶片所設計的IP，此IP可以滿足ISO 26262的規範，協助車用電子晶片設計公司更有效率地開發出符合ISO 26262規範的晶片。
EZ-Safety可以與車用晶片設計公司既有的記憶體測試電路『並存』，並針對車用電子晶片內『重要』的記憶體進行記憶體測試。EZ-Safety在進行車用電子晶片內『重要』記憶體測試前，會『自動備份』該記憶體內的『資料』，待EZ-Safety針對該記憶體完成記憶體測試流程後，若該記憶體的讀寫正確性無誤，EZ-Safety就會『自動』將備份的資料回存至該記憶體；若該記憶體的讀寫出現錯誤情況，EZ-Safety則會通知晶片的主控系統，例如：CPU。
EZ-Safety的使用方式非常簡單，只要將EZ-Safety與車用電子晶片內『重要』的記憶體進行連結，EZ-Safety將會『自動』完成資料備份、記憶體測試與資料回存的流程。
另一款IP為EZ-TEC（Testing Element Change），EZ-TEC是根據芯測科技的美國專利『METHOD FOR GENERATING AN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT』所設計出來的記憶體測試專用IP。
EZ-TEC可以與晶片設計公司既有的記憶體測試電路『並存』，而芯測科技的美國專利可將記憶體測試演算法拆解成元素（Element），讓使用者可以透過『元素重整』的方式完成任何記憶體測試演算法的架構。EZ-TEC讓使用者針對晶片內『重要』記憶體，自行選取記憶體測試演算法的『元素』，當晶片完成CP（Chip Probe）測試後，晶片內的『重要』記憶體『依然』出現『記憶體缺陷』的情況，晶片設計公司可以透過JTAG（Joint Test Action Group）介面，重新將選定的『元素』進行『排列組合』，形成『新的記憶體測試演算法』，並利用『新的記憶體測試演算法』對該晶片內『重要』記憶體進行『重新測試』，以期達到有效降低DPPM（Defective Parts Per Million）的目的。
EZ-TEC的使用方式相當簡易，只要將EZ-TEC與晶片內『重要』的記憶體進行連結，然後選定晶片要使用的記憶體測試演算法『元素』，使用者就可以透過JTAG進行記憶體測試演算法的『重新』設計，即可針對晶片內『重要』的記憶體，進行『量產後』採用『新記憶體測試演算法』，同時進行晶片內『重要』的記憶體『重新測試』，加以強化晶片的品質。
EZ-Safety是一款針對車用電子晶片所設計的IP，讓車用電子晶片設計公司可以輕鬆完成ISO 26262規範下的車用電子晶片。而EZ-TEC可以協助晶片開發公司，在『量產後』依然可以『更改』記憶體測試演算法，針對在CP階段『沒有』檢測出『重要』記憶體缺陷的情況，進行『重要』記憶體的『重新』測試，有效降低DPPM並提高晶片的品質。