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News | 芯測科技推出兩款記憶體測試專用IP

By 2024-01-0510 1 月, 2024No Comments

亞洲唯一專注於記憶體測試與修復解決方案芯測科技(iSTART-TEK,股票代號6786),獨家供應記憶體測試與修復解決方案並提供客製化設計的服務,主要產品包括EDA工具與IP(Intellectual Property)。隨著半導體景氣慢慢復甦,晶片設計公司開始朝著開發多樣化晶片的商務模式,著眼於車用電子晶片、人工智慧晶片、ChatGPT相關晶片、物聯網晶片與消費類產品晶片都是晶片設計公司的兵家必爭之地。因此,如何在眾多晶片設計公司中脫穎而出,以及晶片的設計品質與價格成為主要的關鍵。

芯測科技在2024年第一季推出兩款專注於晶片內記憶體測試的IP,分別為EZ-Safety與EZ-TEC。

EZ-Safety是一款專用於車用電子晶片所設計的IP,此IP可以滿足ISO 26262的規範,協助車用電子晶片設計公司更有效率地開發出符合ISO 26262規範的晶片。

EZ-Safety可以與車用晶片設計公司既有的記憶體測試電路『並存』,並針對車用電子晶片內『重要』的記憶體進行記憶體測試。EZ-Safety在進行車用電子晶片內『重要』記憶體測試前,會『自動備份』該記憶體內的『資料』,待EZ-Safety針對該記憶體完成記憶體測試流程後,若該記憶體的讀寫正確性無誤,EZ-Safety就會『自動』將備份的資料回存至該記憶體;若該記憶體的讀寫出現錯誤情況,EZ-Safety則會通知晶片的主控系統,例如:CPU。

EZ-Safety的使用方式非常簡單,只要將EZ-Safety與車用電子晶片內『重要』的記憶體進行連結,EZ-Safety將會『自動』完成資料備份、記憶體測試與資料回存的流程。

另一款IP為EZ-TEC(Testing Element Change),EZ-TEC是根據芯測科技的美國專利『METHOD FOR GENERATING AN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT』所設計出來的記憶體測試專用IP。

EZ-TEC可以與晶片設計公司既有的記憶體測試電路『並存』,而芯測科技的美國專利可將記憶體測試演算法拆解成元素(Element),讓使用者可以透過『元素重整』的方式完成任何記憶體測試演算法的架構。EZ-TEC讓使用者針對晶片內『重要』記憶體,自行選取記憶體測試演算法的『元素』,當晶片完成CP(Chip Probe)測試後,晶片內的『重要』記憶體『依然』出現『記憶體缺陷』的情況,晶片設計公司可以透過JTAG(Joint Test Action Group)介面,重新將選定的『元素』進行『排列組合』,形成『新的記憶體測試演算法』,並利用『新的記憶體測試演算法』對該晶片內『重要』記憶體進行『重新測試』,以期達到有效降低DPPM(Defective Parts Per Million)的目的。

EZ-TEC的使用方式相當簡易,只要將EZ-TEC與晶片內『重要』的記憶體進行連結,然後選定晶片要使用的記憶體測試演算法『元素』,使用者就可以透過JTAG進行記憶體測試演算法的『重新』設計,即可針對晶片內『重要』的記憶體,進行『量產後』採用『新記憶體測試演算法』,同時進行晶片內『重要』的記憶體『重新測試』,以強化晶片的品質。

EZ-Safety是一款針對車用電子晶片所設計的IP,讓車用電子晶片設計公司可以輕鬆完成ISO 26262規範下的車用電子晶片。而EZ-TEC可以協助晶片開發公司,在『量產後』依然可以『更改』記憶體測試演算法,針對在CP階段『沒有』檢測出『重要』記憶體缺陷的情況,進行『重要』記憶體的『重新』測試,有效降低DPPM並提高晶片的品質。