EZ-Debug的使用時機和購買方式
在傳統的IC測試，特別是MBIST測試，通常需要使用 ATE機台，這帶來額外的成本和時間。然而藉由使用EZ-Debug我們能夠迅速而有效地進行MBIST測試，尤其在IC試量產或是小批量生產階段。而在操作上非常的方便，使用者可直接使用個人電腦透過簡單的操作進行 MBIST 測試，免去了使用 ATE 機台的繁雜步驟，這一來不僅簡化了測試流程，還可以大幅降低相關成本；若需要購買EZ-Debug 可聯繫芯測科技的業務進行採購流程。
Diagnosis的使用時機與優勢
Diagnosis 主要是為了能夠對記憶體失效進行分析，透過這個診斷功能可以得到失效相關資訊，例如透過哪個演算法檢測到的，以及用哪個操作，或是找到錯誤位址以及 data 等等。使開發者能透過Diagnosis information的分析，反饋給晶元廠，進而提升良率。