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多媒體資料庫新聞與活動

Episode 10: 疑難雜症芯解方

By 2024-01-0431 1 月, 2024No Comments

歡迎來到芯測小學堂第十集「疑難雜症芯解方」。疑難雜症芯解方收錄客戶所提出的各種疑難雜症,藉由各類題型的詳解說明,帶大家輕鬆掌握芯測科技的Q&A收錄集。我們有請芯測科技資深軟體工程師Ruby為我們進行疑難排解。

EZ-Debug的使用時機和購買方式?
在傳統的IC測試,特別是MBIST測試,通常需要使用 ATE機台,這帶來額外的成本和時間。然而藉由使用EZ-Debug我們能夠迅速而有效地進行MBIST測試,尤其在IC試量產或是小批量生產階段。而在操作上非常的方便,使用者可直接使用個人電腦透過簡單的操作進行 MBIST 測試,免去了使用 ATE 機台的繁雜步驟,這一來不僅簡化了測試流程,還可以大幅降低相關成本;若需要購買EZ-Debug 可聯繫芯測科技的業務進行採購流程。

Diagnosis的使用時機與優勢?
Diagnosis 主要是為了能夠對記憶體失效進行分析,透過這個診斷功能可以得到失效相關資訊,例如透過哪個演算法檢測到的,以及用哪個操作,或是找到錯誤位址以及 data 等等。使開發者能透過Diagnosis information的分析,反饋給晶圓廠,進而提升良率。

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