全球汽車朝向智能化與電動化，使車用電子更重視晶片的可靠度測試及安全性功能，以期達到 AEC-Q100 的規範，進而打進車用市場。芯測科技的 STARTTM v3 除了提供豐富的記憶體測試功能與高效率的記憶體修復技術，還提供專屬的定製化車用電子功能，如： POT 2.0 (Power_On Test), ECC (Error-Correcting-Code), UDA(User Defined Algorithm)等功能。讓晶片開發商可以根據晶片的應用，精準檢測出有記憶體缺陷的車用電子晶片，提高行車安全。
一、 POT 2.0 (Power_On Test)
1.功能介紹：POT 2.0 (Power_On Test)在電子產品裡是非常重要的功能，尤其在車用與安全性相關的電子產品。能確保硬體電路在上電後進行記憶體檢測，並驗證行為正確性。芯測科技開發了具有記憶體測試與修復功能的 POT 2.0，加入 START™︎ v3 工具中，可以讓使用者方便在設計裡加入記憶體 POT 功能的電路，並提供下列幾種啟動方式：
- ROM：將測試命令(Command)存入 ROM。
- RTL：將測試命令存入由 RTL 描述的 ROM。
- Basic：提供 host_MEN 信號，進行記憶體測試。
- CPU：可以透過 CPU 下達測試指令來控制 BIST 電路。
在應用上也能加入 LATCH_GO 診斷功能，以一顆記憶體對應一位元的形式進行記憶體錯誤編號標記，讓使用者快速了解記憶體發生錯誤的位置。而 Error Injection 的功能，能在電路 Test Pattern Generator 中植入用於驗證 BIST 電路正確性的錯誤資訊，能大幅增加 BIST 電路可靠度。此外，使用 POT 2.0 時，如檢測出新的記憶體錯誤，皆能對錯誤點進行記憶體修復。
2.使用方式：
設定 STARTTM v3 ( BFL )：
i. set pot = rom or set pot =hw_rom
設定 pot 選項為“rom”，測試命令將被存入 ROM；設定 pot 選項為“hw_rom”，會將測試命令存入由 RTL 描述的 ROM，又稱為 Hardwired ROM。最後完成 BFL 與 BII 流程，產生相對應之電路與腳位以供使用。
POT 的模塊圖，主要分為三個模塊，分別為 ROM 記憶體/Hardwired ROM, ROM Controller 和MBIST/MBISR，如圖二所示。
首先 ROM Controller 接收到執行 POT 功能後，會讀取存放在 ROM 記憶體/Hardwired ROM 的測試命令，接著發送控制訊號到 MBIST，開始進行記憶體的測試，若檢測到記憶體錯誤，MBISR 則會自動執行修復流程。
圖二 POT 模塊圖
執行POT 功能相關訊號的波形圖，SYS_POT 為POT 的始能訊號，此訊號啟動後，ROM Controller 會到ROM 記憶體/Hardwired ROM 進行讀取測試指令，並開始記憶體測試與修復，可由MGO，MRD，RGO訊號得知測試結果，如圖三所示。
圖三 POT 相關訊號波形圖
POT= “rom” 或 “hw_rom” 的 MBIST/MBISR 的訊號線如圖四所示。
| Name | Direction | Width | Description |
| SYS_READY | input | 1 | The system boot is ready to enable BISR logics
(hard repair only)
“1’b1”: Ready to load data from NVM storage) |
| SYS_POT | input | 1 | Enable Power on test (normal function test only) |
| BOOT_CFG_DONE | output | 1 | The shifting of configuration data is completed (hard repair only).
“1’b1”: the scan is completed “1’b0”: the scan is progressing |
| RCK | input | 1 | The clock signal for storage device, BISR logics and configuration buffer |
| RRST | input | 1 | The reset signal for storage device, BISR logics and configuration buffer |
| MRD | output | 1 | Indicates if the test is ended or not.
0: The test is uncompleted. 1: The test is ended. |
| MGO | output | 1 | Indicates if the test is failed or not.
0: The test is failed. 1: The test is passed. |
| RGO | output | 1 |
圖四 hw_rom 與 rom 的 MBIST/MBISR 訊號
最後產出存入 ROM 之測試命令的 Verilog 檔案，根據使用者設計的 BIST 功能，產生相應的命令，如圖五所示。Hardwired ROM 之 Verilog 程式範例，將測試命令存入由 RTL 描述的 ROM，如圖六所示。
圖五 存入 ROM 測試命令
圖六 Hardwired ROM 的 Verilog 程式
ii. set pot = basic
設定 pot 選項為 “basic” 將產生 host_MEN 信號線，供使用者啟動記憶體測試，並可由 MGO, MRD, RGO 訊號得知測試結果， “basic” 選項產生之訊號列表，如圖七所示。
圖七 basic 選項的 MBIST/MBISR 訊號
iii. set pot = cpu
設定 pot 選項為 “cpu”，可令使用者直接進行 BIST 電路的控制，並可由調整.bfl 檔案之設定，如圖八所示，增加額外功能，例如 diagnosis_memory_info 功能可新增 LATCH_GO 訊號，令使用者得以快速了解發生錯誤之記憶體編號。編號六之記憶體發生錯誤，如圖九所示。
圖八 BFL 上 Latch_GO 設定
圖九 Latch_GO 波形圖
二、 ECC (Error-Correcting-Code)
1.功能介紹：
ECC (Error-Correcting-Code)是指在傳輸時間允許偵測並校正錯誤的一種編碼方法，在接收端藉由已編碼資料偵測並校正傳輸錯誤，可應用於許多資料傳遞與資料保存的操作。在記憶體方面，ECC 能使用電路方法檢查儲存在記憶體中的資料是否正確。
不論是應用在汽車、工業、醫療及通訊等領域，都可能因記憶體失效，導致嚴重後果，而 ECC 的功能，能提高晶片運行時的穩定性和可靠性。
芯測科技提供 ECC 的功能，讓使用者在記憶體增加 ECC 功能，使用上可幫助使用者做到 2bits 的偵測， 及 1bit 的修正，而使用時須由記憶體提供 ECC 使用奇偶校驗(Parity Check)的空間，來重建校正的數據，須提供的空間為 2Parity-1> Parity + Data bit，例如記憶體資料長度為 22bits 時，使用 6bits 的 ECC 空間來檢測 16bit 的數據。
2.使用方式：
設定 STARTTM v3 ( BFL )：
由 set ecc_function 選項設定啟動方式以及 set ecc_prefix 設定 ecc 名稱，如圖十所示。
圖十ECC設定選項
執行完 BFL 與 BII 流程後，產生 ECC 功能的編碼與解碼電路，如圖十一、圖十二所示。
圖十一 encoder 電路 圖十二 decoder 電路
ECC 波形圖，data_noise 為記憶體的 data 與編碼過的校驗值，透過解碼後，得知 correct data，並可進行 data 修正，如圖十三所示。
三、UDA (User Defined Algorithm)
1.UDA 功能介紹：
隨著科技的演進，新開發的先進製程記憶體搭配現有常見的演算法，會花費較長的測試時間，並且會有重複測試圖像的行為。例如：使用者若同時選擇 March C+(14N)與 March C–(11N)的演算法，測試時間需要 25N。
芯測科技研發了使用者自定義演算法功能 UDA (User Defined Algorithm) 可以自行編輯演算法，將重複的元素 (element)去除，去除後測試時間即可縮短成 23N。
UDA 以元件的形式表達，可透過元件進行重新排列組合，任意產生出新的演算法，如圖十四所示。
圖十四 以元件的形式表達
圖形化使用者介面 (GUI)，友好介面讓使用者能快速上手，如圖十五所示。
圖十五 UDA 圖形化操作畫面
2. 使用方式：
透過 UDA 圖形化操作介面，可快速的設定元素，下圖十六為圖形化操作介面的各項區塊簡介，能簡易的設定測試圖像、讀寫操作方式及位址上下數，完成後產生出演算法。
圖十六 圖形化操作介面簡介
舉例一個 March C 的演算法，利用圖形化操作介面，完成演算法的設定後，點選 UDA File 可看到演算法設定的結果，並按下 Export，即可將此演算法輸出成.txt 檔。最後在.bfl 設定檔中，設定上述.txt 檔之路徑，完成後即可產生出此演算法的 BIST 電路，如圖十七、十八、十九所示。
圖十七 March C 演算法設定
圖十八 演算法輸出
圖十九 UDA 檔案設定