深耕於記憶體測試與修復技術的芯測科技(iSTART-TEK，股票代號6786)，宣布記憶體測試與修復電路開發環境START v3獲得一微電子股份有限公司(得一微)採用，作為得一微開發晶片時，提升良率的關鍵角色。
隨著先進製程持續推進，使晶片邁向低功耗、高效能、面積小的方向發展。由於晶片的功能與複雜度提升，晶片測試的時間與測試成本也隨之增加。
START v3提供Hard-Repair與Soft-Repair等高效能記憶體修復技術，Hard-Repair需要使用NVM(非揮發性記憶體)記錄記憶體錯誤資訊的元件。而Soft-Repair不需要使用NVM記錄記憶體缺陷資訊的元件，當有足夠備援記憶體時，就可重複進行記憶體修復工程。透過START v3的高效能記憶體修復技術，可幫助客戶提升晶片良率、降低開發成本並大幅縮短記憶體修復時間。
為了秉持著幫助晶片開發商以更多元、更快速且更低成本的途徑實現記憶體測試與修復電路，START v3提供完整的記憶體測試與修復解決方案及豐富的微架構。因此加速晶片的記憶體測試與修復電路開發設計，讓整體晶片的記憶體測試與修復電路達到快速開發與整合且低功耗等效果，大幅降低設計與測試成本，並提升晶片良率。
芯測科技是提供記憶體測試與修復解決方案並提供客製化服務的EDA工具與IP公司，擁有創新獨特且具有專利的記憶體測試與修復的核心技術與即時性的技術支援服務，透過與客戶緊密合作供應完整的解決方案，為客戶建構最佳化的記憶體測試與修復方式。
得一微電子公司（YEESTOR）專注固態儲存，為行業客戶提供儲存控制晶元、工業用儲存模組、IP和設計服務在內的一站式儲存解決方案，產品覆蓋消費級、企業級、工業級、汽車級應用。
15年技術積累和業務拓展，得一微電子建立了通用儲存（USB/SD）、嵌入式儲存（UFS/eMMC/SPI-NAND）和SSD儲存（SATA/PCIe）的完整儲存產品線，累計出貨超 10億套。
得一微電子掌握業界多項關鍵技術，獲得授權發明專利227項，並提供存算一體解決方案，滿足AIoT及數據中心等新興應用的挑戰。