隨著科技的演進，新開發的先進製程記憶體，搭配市面上常見的演算法，會花費較長的測試時間，靈活運用芯測科技使用者自定義測演算法（User Defined Testing Algorithms）的方式，可以一次同時測試不同的 Background Pattern，讓使用者自由翱翔在晶片設計領域，同時降低成本。
