隨著科技的演進，新開發的先進製程記憶體，搭配市面上常見的演算法，會花費較長的測試時間，並且會有重複測試的行為。例如：使用者若同時選擇March C+(14N)與 March C-(11N)的演算法，測試時間需要 25N。
| March C+ |
>(wa) >(ra,wb,rb) >(rb,wa,ra) <(ra,wb,rb) <(rb,wa,ra) <(ra) |
| March C- | >(wa) >(ra,wb) >(rb,wa) >(ra) <(ra,wb) <(rb,wa) <(ra) |
此時使用這可以自行編輯一套演算法，將中間重複的 element 去除如下所示：
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>(wa) >(ra,wb,rb) >(rb,wa,ra) <(ra,wb,rb) <(rb,wa,ra) >(ra,wb) >(rb,wa) >(ra) <(ra,wb) <(rb,wa) <(ra) |
這樣測試時間就可以縮短成 23N。
上述演算法的 address 均是全部做測試，在此使用者即可用編輯演算法檔案的方式，自行定義 address 的行為，如下圖所示：
由上圖可見，使用者選擇了 UP，因此 address 是從 0 開始上數，並且定義每一個 address 是否進行 WN 行為，同時可見只有 1、3、5、7、9、11、16、18、20、22、24 和 26 的 address 進行 WN 的行為，其餘的 address 均不動作，因此產生出 MASK 的電路，將不動作的行為遮蔽掉，如下圖所示。
另外 Pattern 的部分，傳統的演算法，一次同時只能測試一個 Background Pattern，透過編輯演算法檔案的方式，可以一次同時測試不同的 Background Pattern，如下圖所示，A 有 5 組 pattern，相對的 B、C、D 就會有 5 組，使用者可以自行定義要測試的 Pattern，每次測試僅會測試一組 Pattern。
下圖為依據使用者定義的演算法行為，產生出的電路模擬結果，可以看到Address 只有在定義的 1、3、5、7、9、11 的 address 做 WN 的行為。
同時也提供了 GUI 模式，讓使用者更方便編輯檔案，如下圖所示，
