隨著科技的演進,新開發的先進製程記憶體,搭配市面上常見的演算法,會花費較長的測試時間,靈活運用芯測科技使用者自定義測演算法(User Defined Testing Algorithms)的方式,可以一次同時測試不同的 Background Pattern,讓使用者自由翱翔在晶片設計領域,同時降低成本。