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芯測科技走進北京大學線上課堂,推出“記憶體測試及修復”課程

By 2020-09-2311 5 月, 2021No Comments

芯測科技(iSTART-TEK,股票代號 6786)大學計畫助力北京大學信科院,為暑期線上課程提供“記憶體測試及修復”項目。在眾多報名者中北京大學嚴選了來自全國著名高校相關專業的本科、碩士、博士生參與了本次課程,聽課學生分別來自於北京大學、山東大學、吉林大學、寧波諾丁漢大學,華北電力電氣工程學院、北京理工大學、中國科學技術大學。該課程的內容除了技術說明外還結合了實務應用,並且課程在課後還可以通過重播的方式方便學生再次複習。

根據聯合國統計的資料,目前全球已有 15 億的學生受到疫情影響,共有185個國家或地區的學校停課或是部分停課。芯測科技一直以來便以創新、效率以及服務作為公司的核心價值,在疫情未發生前便以舉辦線上技術研討會以及發表技術白皮書的方式,提供各項創新技術的訊息給予 DFT 可測試性設計相關從業人員以及研究單位。在疫情影響下,在線課程會是維持學校正常教學的一個有效的方法,並且不受地域及時空上的限制。這次與北京大學合作的暑期線上課程,是芯測科技大學計畫的一部分,希望透過在線課程降低疫情對學生學習的衝擊,也同時將實務需求帶入學校教學課程。

整個課程過程中氣氛相當活躍,課程中的問答也非常積極踴躍,而這次課程的成功也讓我們更清楚學院相關需求,未來芯測科技將以此次與北京大學的課程合作為契機,持續推出相關課程,並與各院校的電子、電機、資工與資訊等相關系所攜手合作,不斷優化大學計畫及教育培訓的模式協助培訓 DFT 可測試性設計領域相關人才。推動 DFT 可測試性設計走進更多的校園,協助國內 DFT 可測試性設計人才的培養。

隨著 5G、AI 及新世代複雜 SoC 開發的需要,積體電路邁向更先進的技術節點(Technology Node),透過可測試性設計包含記憶體內建測試與修復來減少晶片的測試週期和成本,並在量產中控制產品品質(DPPM,每百萬個產品中的不良率)變得越來越重要,相關設計需求也不斷擴增。芯測科技在訪問客戶的過程中,看到了越來越多客戶有成立可測試性設計部門的需求,但苦於相關人力的缺乏,所以本於回饋學界加強產學合作的想法下,所以希望透過大學計畫,與各院校的電子、電機、資工與資訊等相關系所攜手合作,協助客戶培訓領域 DFT 可測試性設計人才。

芯測科技是目前在提供記憶體測試與修復解決方案的領導廠商,提供各式記憶體包含 SRAM,DRAM,eFlash,MRAM/RRAM,MTP 完整的可測試性設計。『EZ-BIST 便捷版記憶體測試開發平臺』是秉持著幫助開發者以更簡單、更快速、更低成本的途徑實現優化的記憶體測試電路的一套 EDA 工具。憑藉高效能、低功耗可程式化暨管線式架構記憶體測試技術,從整體的晶片設計切入,透過易使用的圖像化人機介面(GUI)設定相關參數及選項,全自動的辨識 SoC 設計中的記憶體並將其分群,並且具有完善測試演算法、硬體架構共用、診斷資訊紀錄與設計電路自動整合等完整功能。讓使用者能輕易產生優化的記憶體測試電路,大幅減少設計成本與時間,以提升測試良率、降低測試成本,提高產業競爭力。