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技術文章

提高整體開發流程的記憶體測試電路開發工具

By 2019-07-1926 5 月, 2021No Comments

為確保時序控制晶片上的記憶體工作正常,內建自我測試技術 (BIST; Built-In Self -Test) 成為晶片實作中,不可或缺的一部分。自我測試電路 (Built-In Self-Test),可以提高測試的錯誤涵蓋率,縮短設計週期,增加產品可靠度,並加快產品的上市速度。

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