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2025-08-15News｜芯測科技成功入圍2025亞洲金選獎( EE Times Asia Awards) – 產品獎！
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2025-07-14News｜直擊車用SRAM失效核心，UDA+TEC打造專屬測試解決方案
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2025-07-08News｜深入解析DPPM：標準、目標與車規晶片設計的關鍵
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2025-07-01News｜芯測科技榮獲「Configurable Testing and Repair System for Non-Volatile Memory」美國發明專利
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2025-06-30News｜從測試到量產：eFlash IP 在車用SoC設計中的實戰應用
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2025-06-23News｜傳統記憶體測試已不敷使用？深入解析UDA與EZ-TEC的創新應用
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2025-06-19News｜芯測科技榮獲「2025年度優秀車規芯片提供商」殊榮，彰顯在車用電子領域的卓越實力
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2025-06-17News｜AI晶片設計中的高效推手：BIST與BISR技術解析
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2025-06-02News｜「芯」疫苗問世！芯測自主研發UDA 打造SRAM全覆蓋測試方案
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2025-06-02News｜美國出手管制三大EDA供應中國，7nm以下EDA搞盜版容易嗎？
活動一覽
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2025-07-22ICCAD-Expo 2025｜第三十一屆中國集成電路設計業展覽會
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2025-01-17Webinar｜iSTART-TEK’s APPA
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2025-01-07Webinar｜START™ v5 Supports the BIST of CIM
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2025-01-06Webinar｜如何整合芯測科技的EDA工具與其他EDA工具完成DFT的完整流程
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2024-12-30Webinar｜如何透過SRAM測試EDA工具EZ-BIST徹底掌控DPPM