8/22：用IP輕鬆在量產後改變SRAM測試演算法
市面上常見的記憶體測試演算法，會有重複測試的行為，因此需要花費更多測試時間與成本。芯测科技的EZ-TEC是全球首創於晶片量產後進行記憶體測試演算法的修改技術，此技術是基於芯測科技的「用於產生記憶體自我測試演算法電路之方法 (METHOD FOR GENERATING AN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT)」元素化架構。讓測試工程師能夠在晶片量產測試階段，根據其需求調整測試演算法，有效降低 DPPM。
精彩內容：
• 誰說IP不能靈活調整測試演算法
• 芯測EDA工具與IP均支援此功能
• 開啟EZ-TEC的應用場景與流程
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