7/18：UDA元素化架構SRAM測試演算法開發環境
隨著晶片記憶體形態的多樣化，傳統的記憶體測試方法已逐漸難以滿足市場需求。芯測科技的UDA (User-Defined Algorithm，使用者自定義演算法開發平台)能够因應大量計算效能需求的CIM (Compute-in-Memory，記憶體內運算)技術的記憶體使用，同時滿足客戶在特殊型態的記憶體測試。
芯測科技的EDA工具START™ v3、EZ-BIST以及IP產品EZ-TEC SRAM IP均支持UDA。讓客戶透過記憶體測試演算法的元素重組進行有效延伸，其UDA所產生的測試演算法也能應用於EZ-TEC做延伸，從而提高整個測試的覆蓋率及靈活性，還確保了測試過程的高效性和可靠性。
精彩內容：
• UDA (User-Defined Algorithm)概述
• UDA的市場應用與實現方式
• 芯測科技的START™ v3、EZ-BIST及EZ-TEC SRAM IP均支援UDA
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