在汽車應用中，SRAM扮演著暫存與高速緩衝的重要角色，但它也暴露在極端溫度與電壓環境下，容易出現各種潛在失效。對於需達到ISO 26262 ASIL-C或ASIL-D的車用晶片來說，任何一種記憶體缺陷都可能導致系統功能安全風險。因此，我們必須了解並覆蓋所有潛在的SRAM失效類型。
🔧 關鍵失效類型：
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寫入操作相關錯誤
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讀取操作相關錯誤
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讀寫交互動態錯誤
這些錯誤類型多數僅在特定操作序列或極端電壓/溫度條件下出現，因此傳統測試演算法難以全面覆蓋。
💡 芯測科技解決方案：
芯測科技透過使用者自定義演算法平台UDA (User Defined Algorithm)，結合 TEC (Test Element Change) 技術，提供靈活且高覆蓋率的測試序列配置能力，幫助車用SoC設計團隊：
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精準對應多樣化SRAM失效類型
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應對高溫、高壓等邊界操作環境
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滿足ASIL-C / ASIL-D 功能安全等級驗證需求
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