🚗在自動駕駛或煞車等安全關鍵系統中，即便是百萬分之一的失效，也可能帶來災難性後果。這也是為什麼在車用晶片開發中，降低 DPPM（每百萬顆的不良品數）是一個不可妥協的目標。
在本集芯測小學堂中，將解析 Power IC、MCU 與雷達感測 IC 在實際應用中的 DPPM 管控目標，並探討 AEC-Q100、IATF 16949 和 ISO 26262 等國際標準，如何從設計、製程、測試到驗證階段，影響車用晶片的品質策略。無論您是設計工程師還是測試開發者，透過完整的背景脈絡與數據整理，幫助您深入了解頂級供應商是如何實現高可靠度管理。
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