隨著安全規格的持續更新，確保記憶體在長時間運行下的正確性變得至關重要。EZ-Monitor IP是在上電後(function mode)能針對個別關鍵記憶體進行測試。不僅支援軟修復(soft repair)，還能與現有的記憶體內建自我測試(MBIST)電路共存。這種軟修復技術能增加晶片的韌性，而EZ-Monitor IP與MBIST電路的兼容性則為客戶在應用上帶來更多的便利性與彈性。
EZ-Monitor架構圖
EZ-Monitor電路可以與現有的MBIST電路共存，並插入在需要上電測試的關鍵記憶體旁。如圖一所示。利用多工器切換SRAM控制訊號，並使用ezm_MEN作為『使能訊號』，最終通過Basic I/O介面接到頂層。值得注意的是，電路的插入需遵循各自的時鐘域(clock domain)。
圖一、EZ-Monitor IP架構圖
EZ-Monitor演算法行為
EZ-Monitor使用保留測試演算法(Retention Test)，在讀寫行為之外插入保留狀態(Retention State)。EZ-Monitor支援兩種方式。第一種方式是固定保留時間(Fixed Retention Time)，將保留時間預先寫入電路中，所有測試的保留時間一致。第二種方法使用握手機制(Handshake)。通過介面，EZ-Monitor在完成記憶體測試資料寫入後，它將發送RET state訊號並進入保留狀態。當用戶準備結束保留狀態時，可向介面發出RET done訊號進而結束保留狀態，啟動讀取。如圖二所示。
圖二、EZ-Monitor演算法行為
EZ-Monitor波形圖
固定保留時間(Fixed Retention Time)波形如圖三所示。
圖三、固定保留時間的波形
握手機制(Handshake)波形如圖四所示。
圖四、握手機制的波形
首先執行由輸入信號ezm_RP_default_MEN_D驅動的一般測試，包括兩個背景資訊(Background Data) (0F/5A)。在檢測到記憶體故障後，給出修復資料，再進行修復和重新測試。圖四、圖五帶有『軟修復』保留握手波形。
圖五、EZ-Monitor介面的波形1
圖六、EZ-Monitor介面的波形2
EZ-Monitor介面腳位
EZ-Monitor支援Basic I/O介面。ezm_MEN為電路的使能訊號；ezm_RET_done為握手機制的控制訊號；ezm_MGO是記憶體測試的結果；最後由ezm_RGO判斷是否可以進行記憶體修復。如圖七所示。
圖七、EZ-Monitor介面腳位
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