靜態失效和動態失效的定義
靜態失效是在單次操作下就能發現錯誤/故障。可能在各種製程中出現。當記憶體單元如果無法改變，永遠只能輸出0，即為靜態失效；動態失效則需要在特定條件下多次操作才會暴露。通常在先進製程中出現。當記憶體單元在某種特定的情況下，經過多次操作讀寫後，才會產生錯誤，即為動態失效。
靜態失效和動態失效的區別
靜態失效和動態失效代表記憶體中的兩種錯誤。兩者之間的差別在於故障呈現的方式。
如何透過演算法找出失效
March C可用來檢查記憶體的靜態失效。經過一系列的操作讀寫後，記憶體單元會進行不同的狀態變化，並在每次操作後驗證之前的狀態是否正確。如果在某個步驟出現錯誤，代表有靜態失效存在。 透過March C 演算法特定的操作序列，可快速找出單次操作中的記憶體問題；而 March 33N：可用來尋找動態失效的方法，複雜度相對較高。經過一系列的操作讀寫與特定的步驟下，使記憶體單元在多次操作後產生變化。每次操作後，演算法會執行操作讀寫，檢查是否有任何故障。如果在特定操作後記憶體出現錯誤，代表動態失效的存在。
記憶體測試的算法與方法
除了各種演算法之外，在檢測時，還有不同的測試方法。其中Checkerboard的測試概念是在記憶體單元之間交替寫入0和1，然後進行操作讀取，檢查是否出現錯誤。此方法能找出需要進行多次操作後，才會被觸發的動態失效問題。
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