為什麼傳統的記憶體測試方式，已經無法應對AI晶片的需求？
過去50年來，記憶體技術不斷演進，但AI與先進半導體正在徹底改寫遊戲規則。
無論是車用電子還是AI應用中的SoC，傳統的 March C 演算法已經難以應付隱性缺陷。若無法準確找出記憶體瑕疵，晶片的可靠性也將大打折扣。
透過本集芯測小學堂中，深入介紹兩大記憶體測試利器——UDA 與 EZ-TEC，為您提供靈活且高效的測試解決方案：
✅ UDA（使用者自定義演算法）：圖形化操作介面，輕鬆自定測試策略
✅ EZ-TEC SRAM BIST IP：模組化、專利支援演算法，適應先進製程
✅ 更聰明的缺陷檢測 → 更高效的修復 → 更低的 DPPM
透過本影片，您將了解芯測科技如何協助全球半導體團隊打造更快、更準、更智能的記憶體測試流程：
📽️ 立即觀看影片