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多媒體資料庫芯測小學堂

Episode 34: 車規級別晶片的SRAM測試算法三部曲之漫談車用電子晶片的DPPM

By 2025-05-21No Comments

DPPM(Defective Parts Per Million,每百萬顆中的不良品數)是衡量車用晶片品質與可靠度的核心指標。當一顆晶片出現在煞車系統或自動駕駛控制單元中時,即使僅有百萬分之一的故障機率,也可能釀成無法挽回的事故。因此,從設計、製程、測試到驗證,每個環節都要以極低的 DPPM 為目標。

本集將介紹不同晶片類型(如 Power IC、MCU、雷達感測 IC)在量產與保固期內的 DPPM 目標、Tier 1 與 OEM 對品質的實際要求,以及 AEC-Q100、IATF 16949、ISO 26262 等國際標準如何影響業界的 DPPM 管理策略。透過完整的背景脈絡與數據整理,幫助觀眾理解車用晶片品質控管的嚴謹程度與實務做法。

重點速覽

  • DPPM 的背景與指標期望
  • 市場召回的DPPM 期望
  • 國際標準與規範參考
  • 不同晶片類型的 DPPM 指標
  • DPPM 管理的背景脈絡