芯測小學堂 iSTART Class – 芯測科技

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Episode 35: 車規級別晶片的SRAM測試算法三部曲之車用晶片面臨的SRAM失效種類

https://youtu.b...

Zoe2025-06-10

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Episode 34: 車規級別晶片的SRAM測試算法三部曲之漫談車用電子晶片的DPPM

https://youtu.b...

Zoe2025-05-21

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Episode 33: SRAM測試演算法中的讀寫操作與缺陷類型

https://youtu.b...

Zoe2025-05-21

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Episode 32: START™ v5對照START™ v3的效能提升

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Zoe2025-04-14

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Episode 31: 芯測科技的產品成功量產於車用電子及消費類產品

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Zoe2025-03-26

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Episode 30: 如何改寫測試演算法的架構？

https://youtu.b...

Zoe2024-12-25

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Episode 29: 如何確保晶片生命週期？

https://youtu.b...

Zoe2024-11-28

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Episode 28: eFlash測試與修復IP廣泛應用於車用晶片

https://youtu.b...

Zoe2024-11-06

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Episode 27: 芯測科技為您找到晶片成本與質量的平衡點

《晶片戰爭》這本書中清楚地詮釋...

Zoe2024-11-01

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