AI、高效能運算（HPC）與車用電子快速發展，先進 SoC 的嵌入式記憶體容量持續攀升，記憶體品質已成為影響良率、DPPM 與產品可靠度的關鍵因素。面對日益複雜的製程變異與缺陷挑戰，記憶體測試已成為涵蓋設計、量產到品質優化的全生命週期管理。
芯測科技以 START™ v5 為核心，將傳統 Memory BIST/BISR 解決方案升級為 AI 驅動的記憶體品質平台，整合 MART（MBIST Algorithm Recommendation Tool）、UDA／TEC、Diagnosis Intelligence 與 Repair Intelligence 等關鍵技術，建立從演算法推薦、測試策略優化、缺陷診斷到修復分析的完整品質管理流程。
透過 AI 與數據驅動架構，芯測科技協助客戶提升測試覆蓋率、優化修復效率、加速良率改善，並有效控制 DPPM。在先進製程與車規級晶片對品質要求持續提升的趨勢下，打造具備自我演進能力的智慧化品質防線，為高可靠度與量產競爭力提供堅實基礎。