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因应 AI 推论世代的 SRAM 测试新架构

By 2026-01-0528 1 月, 2026No Comments

先进制程与AI推论架构持续推升SRAM使用量,传统的内存测试方法正逐渐面临极限,更长的测试时间、重复且冗余的测试样式,以及持续上升的成本,都成为挑战。

荣获 2025 EE Awards Asia 肯定的 START™ v5,以专利化的算法架构解决这些难题。其 UDA 模块化架构让工程师能依据不同制程与设计需求调整测试策略,进而提升良率、可靠度与量产效率。

了解更多:https://www.istart-tek.com/2025/12/05/10547/