在高性能AI SoC设计中，内存测试与修复机制是影响良率与稳定性的关键之一。生成式AI应用其背后倚赖大量内存支持深度计算，而芯片自晶圆厂流出后的第一步，即是透过BIST (Built-In Self-Test)进行高覆盖率的失效扫描。
当BIST检测出内存中的静态或动态失效，接续由BISR (Built-In Self-Repair)进行自动替换与修复，透过备援单元实现局部重构，确保SoC能正常运作。
- 拥有近40项BIST/BISR核心专利
- 提供涵盖多种测试模式的高效率算法
- 可在多种制程平台(先进制程、车规、IoT等)快速导入
- 电路面积最小化设计，有效降低整体SoC面积负担
透过本视频，您将了解芯测科技如何协助客户建构高可靠性、高良率的内存子系统。
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