芯測科技於近日取得美國發明專利「Configurable Testing and Repair System for Non-Volatile Memory」，展現我們在記憶體測試與修復技術領域的創新實力。
本專利設計一套可配置的非揮發性記憶體測試與修復系統，具備自動化測試、診斷與修復功能：
📌 測試裝置可判斷記憶體是否需要修復，並進行故障位址與錯誤資料的診斷
📌 修復裝置依據診斷結果進行記憶體修復
📌 控制裝置整合測試與修復流程，提升效率與可靠性
這項專利不僅強化芯測科技在記憶體測試IP市場的技術領先地位，也為客戶提供更高品質、彈性化的解決方案！
