主要優勢
· SoC設計日趨複雜，為精進DFT流程的Scan Flow，發展出更佳的Scan技術
· SSN可併行處理載入與讀出的步驟，不須等待整個Scan Chain載入完畢才開始輸出
· SSN通常會把Scan Chain分成多個Segments或Hierarchy，每段可獨立開關
· 透過Insertion Bit的機制決定哪個區段要接收測試資料
· 並行處理，提升整體Scan Flow的效率，減少測試時間
· 動態配置，提高整體Scan Flow的靈活度
· 除錯力提升，可更精準且快速定位問題發生的位置
精彩內容
· Completed DFT Flows (iSTART-TEK EDA Tools + SCAN + ATPG)