現今記憶體測試常使用自動測試裝置ATE (Automatic test equipment,)來進行測試，首先START™︎ v3會提供給ATE所需要的memory test pattern來進行測試，ATE會產出測試結果ATE log檔，而ATE log的內容為0、1的訊號，要去診斷判讀會較繁瑣與不易，因此為了方便快速分析記憶體在ATE測試後的結果，START™︎ v3開發診斷ATE工具，需搭配芯測科技自家工具產出的檔案做配合就可方便分析錯誤記憶體資訊。芯測科技還有開發一款以PC base的JTAG轉USB的診斷工具，可以針對非量產chip以及開發中的chip進行診斷，可以省下ATE測試的成本還可以即時的知曉診斷結果。