Webinar｜用 IP 輕鬆在量產後改變 SRAM 的測試演算法

市面上常見的記憶體測試演算法，會有重複測試的行為，因此需要花費更多測試時間與成本。芯测科技的EZ-TEC是全球首創於晶片量產後進行記憶體測試演算法的修改技術，此技術是基於芯測科技的「用於產生記憶體自我測試演算法電路之方法 (METHOD FOR GENERATING AN MEMORY BUILT-IN SELF-TEST ALGORITHM CIRCUIT)」元素化架構。讓測試工程師能夠在晶片量產測試階段，根據其需求調整測試演算法，有效降低 DPPM。

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