無論是在半導體製造過程中造成的缺陷或是因老化引起的異常漏電流，都有可能導致記憶體的讀寫行為發生錯誤。加上車用電子晶片各項安全規格不斷更新，必須確保記憶體在長時間運行下的正常運作。因此，芯測科技開發可確保晶片內的記憶體生命週期的EZ-Monitor IP，為客戶提供上電後立刻進行記憶體測試。立即報名11月21日 iSTART-TEK Webinar了解芯測科技如何透過EZ-Monitor IP來確保晶片的生命週期。
精彩內容：
- 快速整合IP與晶片內的SRAM
- 有效監控晶片內SRAM的生命週期